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光通TO测试

光通TO测试机包含激光器和探测器TO封装类型的自动测试设备，支持各类引脚封装，软件支持切换；测试夹具与老化工艺的共用，方便客户使用；测试设备功能全面，可配套插料机，自动上下料；测试机核心测试仪表为kaiyun体育app手机下载自制仪表，具备国产化、成本优势
光通TO测试
TO56自动盘测系统

PSS PAT-56-I(E)

TO56自动盘测系统

DML TO自动测试

PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO，支持任意引脚封装测试，支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO56自动盘测系统

PSS PAT5606

TO56自动盘测系统

兼容DML/EML TO自动测试

PSS TO56自动盘测系统，适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试，采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO，支持任意引脚封装测试，支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用，提高工厂生产、测试效率，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO46自动盘测系统

PSS PAT-46-I(E)

TO46自动盘测系统

支持PIN-TIA、APD TO自动测试

为了提高光器件的可靠性，光器件在TO封装前会经过性能测试，避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。武汉kaiyun体育app手机下载TO-46自动测试系统主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性，具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

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TO三温测试系统

PSS LDTO3T12801

TO三温测试系统

-40℃/85℃/25℃ TO测试

PSS TO三温测试系统支持TO工业级低温、常温、高温测试，温度控制范围为-40℃～85℃，适用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自动测试，支持器件任意引脚封装测试，支持LIV特性测试以及光谱测试。系统一次支持两块夹具进行测试，每块夹具可装载128颗TO，提高测试产量，系统具有温控快，温度均匀性好，稳定可靠，测试效率高的特点。

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