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APD集成式老化系统

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APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选,最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件追溯,能够有效的提升TO生产的效率和可靠性,可以极大的提高器件测试的产量和质量。


  • 应用
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    • 商品名称: APD集成式老化系统
    • 型号: PSS APDBI13002
    • 描述: 支持APD TO老化,最高3072路

    APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选,最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件追溯,能够有效的提升TO生产的效率和可靠性,可以极大的提高器件测试的产量和质量。

    产品应用

    • 批量生产环节中APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件进行老化筛选
    • 长时间可靠性失效测试分析

     

     

  • 产品特点

    • 提供每路完全独立的驱动电流
    • 两个独立老化箱体,可以完全独立控制,升温速度效率高,无过冲

     

     

    • APD电路具有限压保护功能,防止恒流开路高电压输出损坏器件
    • 可靠的EOS防护,上电时序先TIA上电,再APD上电,下电时序先APD下电,再TIA下电,
    • 先后延时可配置,保证器件上下电安全

     

     

    • 64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率

     

  • 参 数

    指 标

    测试路数

    单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路

    独立温区数

    2个

    APD恒流驱动

    0~2mA

    APD电压测量

    0~70V

    TIA恒压驱动

    0~5V

    TIA电流测量

    0~60mA

    VPD输出电压

    0~20V

    PD电流检测

    0~200uA

    温度范围

    RT+20℃~150℃,可定制支持175℃。

    温度精度

    ±2℃

    温度均匀性

    满载时≤3℃,空载时≤2℃

    升温过冲

    ≤3℃

    长期温度稳定性

    0.5℃

    升温速度

    100℃/半小时

    设备尺寸(宽x高x深)

    1400 x 1800 x 1200(mm)

    电源规格

    三相五线AC 380V/50HZ


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